超鋒科技股份有限公司
238 新北市新北市樹林區東豐街49巷45號
實驗樣品資訊
材質:螢光晶片
實驗設備:紫外飛秒秒雷射切割機
實驗目的
將材料上進行蝕刻,蝕刻深度為20um,蝕刻圖形為0.728*0.728mm的方形框 間距為0.049mm
將材料進行全切,切割圖形為0.728*0.728mm的方形框 間距為0.049mm
效果外觀(為蝕刻39um)本圖為附加吹氣降溫後效果;並且初步手動裂片39um參數
切割參數
功率(%)
頻率
(kHz)
實際功率(w)
切割次數
切割速度(mm/s)
焦點位置
(mm)
填充間距
(mm)
填充圈數
跳轉延時(ms)
效率
60
250
7.2w
100
1000
-0
0
0
0.2
—
現存問題與後續措施
評估與效能優化:目前僅完成初步的效果與效率評估。後續計畫增加輔助冷卻氣體以加速降溫、減少熱影響,並藉此減小跳轉延時。
功率控制與殘渣處理:切割功率過大會導致材料表面融化並產生黑邊。針對此問題,預計在機台設備添加高壓吹氣,以減少殘渣堵塞切割道,避免影響光路傳輸。
光斑調整與製程改善:目前最大功率僅能開至 80%,且仍會出現輕微黑邊。後續需要減小光斑大小(縮小焦斑),以達到製程的實際需求。
效果外觀(為蝕刻20um) 39um參數
切割參數
功率(%)
頻率
(kHz)
實際功率(w)
切割次數
切割速度(mm/s)
焦點位置
(mm)
填充間距
(mm)
填充圈數
跳轉延時(ms)
效率
40
250
4.8w
80
800
-0
0
0
0.2
—
現存問題與後續措施
評估與效能優化:目前僅完成初步的效果與效率評估。後續計畫增加輔助冷卻氣體以加速降溫、減少熱影響,並藉此減小跳轉延時。
功率控制與光路優化:加工功率不可過大,否則會導致光斑與切割道隨之變大。後續預計在機台設備添加高壓吹氣,以減少殘渣堵塞切割道,避免影響光路傳輸。
光斑調整與製程改善:目前最大功率僅能開至 80%,且仍會出現輕微黑邊。後續需要減小光斑大小,以符合製程的實際需求。
效果外觀(為蝕刻45um) 39um參數
切割參數
功率(%)
頻率
(kHz)
實際功率(w)
切割次數
切割速度(mm/s)
焦點位置
(mm)
填充間距
(mm)
填充圈數
跳轉延時(ms)
效率
70
250
8.4w
120
1000
-0
0
0
0.2
—
現存問題與後續措施
評估與效能優化:目前僅完成初步的效果與效率評估。後續計畫增加輔助冷卻氣體以加速降溫、減少熱影響,並藉此減小跳轉延時。
功率控制與光路優化:在調整製程時,不可盲目增加切割次數(這只會降低加工效率),應以適當提升功率為主。同時,預計在機台設備添加高壓吹氣,以減少殘渣堵塞切割道,避免影響光路傳輸。
光斑調整與製程改善:目前加工後會產生輕微黑邊,且蝕刻邊緣會出現發白現象。後續需要減小光斑大小,以改善邊緣外觀並達到品質需求。
效果外觀(為全切)39um參數
切割參數
功率(%)
頻率
(kHz)
實際功率(w)
切割次數
切割速度(mm/s)
焦點位置
(mm)
填充間距
(mm)
填充圈數
跳轉延時(ms)
效率
80
250
9.6w
250
1000
-0
0
0
0.2
現存問題與後續措施
評估與效能優化:目前僅完成初步的效果與效率評估。後續計畫增加輔助冷卻氣體以加速降溫、減少熱影響,並藉此減小跳轉延時。
功率控制與光路優化:目前全切效果不理想,在尚未切斷前材料即出現發黑、發白現象,且產品已有破碎與裂痕的跡象。針對此問題,機台設備預計添加高壓吹氣,以減少殘渣堵塞切割道,避免影響光路傳輸。
光斑調整與製程改善:現階段的加工效率過久、耗時過長。後續需要透過減小光斑大小,來提高能量密度與加工速度,以達到實際的產能需求。
結論一、 紫外雷射全切之加工瓶頸分析由於產品材料本身對紫外雷射(UV Laser)的吸收率低,導致全切加工難以在合理的效率內完成。在嘗試全切的過程中,主要面臨以下兩大物理特性衝突:
材料脆性與熱應力限制:本產品屬於脆性材質,不可使用過高功率,否則會直接導致融邊或材料崩裂。然而,在尚未切斷前,產品就極易從中間產生裂縫。
複合材料能量吸收異常:在進行全切時,材料表面會出現大面積發黑與發白的現象。此情況是由於複合材料減少了對雷射能量的吸收,製程上被迫只能加大瞬態功率,進而引發嚴重的熱影響。
二、 微細蝕刻道之光學硬體改善對策針對目前蝕刻道要求較小的限制,現有設備的加工能力已達瓶頸,必須評估進行機台配件的硬體整改。後續規劃導入「小焦距場鏡(小鏡頭)搭配擴束鏡」的架構,藉此有效減小光斑大小(縮小焦斑)。必要時,將進一步加裝「光閘圈(Aperture)」以修飾光束質量,從根本上解決高功率帶來的崩邊問題並滿足微細線寬的需求。
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光通訊晶圓紫外飛秒切割
2026-06-30
2027-06-30
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