Lumetrics 波前仪／透镜检测系统
由超锋科技代理美国Lumetrics公司产品，该公司专注於设计、开发及制造高精度、非接触式厚度测量与光学检测系统，实现高准确度、非破坏性、可重复性及即时测量的解决方案，广泛应用於眼科制造、扩增实境/虚拟实境（AR/VR）、玻璃、矽晶圆制造、医疗器械、汽车产业等领域。
CLAS-2D系统
CLAS-2D™ Shack-Hartmann波前仪系统涵括了干涉仪(interferometer)、光斑分析(beam profiler)、光束品质计(Beam quality meter)，软体则可用来分析光的畸变(aberration)，包含散光性(astigmatism)、慧差(coma)、球面畸变(spherical aberration)、聚焦误差(focus error/collimation)、倾斜(tilt)等等。CLAS-2D还可量测M2光斑品质、MTF(Moudulation transfer function)、Strehl Ratio、近场和远场的光斑散度(Beam divergence)及其他的光斑参数，雷射可用连续(CW)和脉冲式(Pulse)，机型有可见光、近红外光、远红外光三种型号可选择。
典型的波前仪应用范围
- 雷射光斑解析(Laser beam diagnostics)
- 光学测试(Optical testing)
- 对准(Alignment)
- 角度测量(Angular measurement)
- 准直(Collimation)
- 表面测量(Surface measurement)
