影像校正片／对位片／标靶板／分划板
由超锋科技代理美国Max Levy Autograph, Inc.（简称 MLA），该公司产品以高精度光学制图技术及专有图案化方法为基础，为多个行业的商业及军事航太（MIL-AERO）客户提供服务。
解析度与尺寸靶标非常适合应用於视觉/光学系统、计量以及摄影领域。这些靶标可用於检测影像品质，包括解析度、对比度、调制传递函数（MTF）、景深（DOF）以及失真等特性。靶标采用耐用的铬材质，光密度达 3.0，并适用於透射光及反射光应用。
- 应用范畴：军事、度量、校正、机器视觉、医学、半导体。
- 特色产品：度量与计量、光栅与空间频率、靶标、分划板、美国空军与解析度靶标、灰阶靶标、相机校准靶标、多功能靶标以及显微镜与放大镜。
- 认证：通过 NIST、AS9100 Rev C 认证，包括 ISO 9001:2008 和 ISO 17025 认可资格。
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微米尺 Micro rules |
辉度标 Gray Scale Targets |
机械视野尺标 Machine Vision Scales |
栅格/点阵/扭曲阵列Grid/Dot/Distortion Arrays |
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客制化量测板 Custom Devices |
放大镜/显微镜 Magnifiers and Microscopes |
比较量测器/小型放大器 Comparators and Loupes |
景深/模量传递函数量测仪 DOF and MTF Targets |
 分划板 Reticles |
Custom Patterned Optics |
 朗奇刻线 Ronchi Rulings |
Ronchi Slides |
刮痕/凹陷标准片 Scratch / Dig Standards |
Clear Optical Path Target |
X射线标板 X-Ray Targets |
萤光标板 Fluorescent Targets |
