雷射光束轮廓分析仪 基础型
CN0307UV-M
本雷射光束轮廓分析仪，可用於功率50W以下全固态雷射、光纤雷射以及半导体雷射等光源的聚焦光斑的检测及线上监测等。广泛应用於科研及工业领域。软体介面中可显示二维和三维能量分布情况，以及光斑直径、发散角和椭圆度等雷射光束轮廓特徵。
技术参数
- 型号：CN0307UV-M
- 检测波段：190~1100nm
- 感测器最大面积：8.4mm*7.1mm
- 感测器有效面积：7.1mm*7.1mm
- 最小光斑：35μm
- 最大光斑：4.7mm@基膜光束，中心入射
- 最大接收角：准直光：±2.5°；汇聚光：NA0.08
- 最小功率：1mW
- 最大功率：50W
- 检测时间：50W/2 分钟
- 齐焦公差：0.05mm
- 离焦测量范围：±5mm，基於齐焦距离 95mm 计算
- 内置衰减：OD0.0~4，任选 2 种，可替换
- 介面：USB3.0
- 外触发：支持
- 使用环境：温度＜15~25℃，相对湿度＜60%
- 重量：＜1Kg
- 入光方向：竖直，可根据需求定制