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一字线 532nm 连续绿光雷射器3
https://www.steo.com.tw/cn/ 超锋科技股份有限公司
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一字线 532nm 连续绿光雷射器

一字线雷射器是由点光源通过线性发生器产生功率密度均匀<20%,直线度±0.1%,功率稳定性好并呈一字线型输出的雷射器。该产品被广泛应用於三维扫描测量、尺寸检测、角度测量、平面度、位置焊接、电路板晶片检测等工业领域,以及科研方面的PIV粒子图像测速等领域。

绿光雷射是指波长范围在501-565nm的雷射波段,具有功率稳定、操作简单、性能可靠、使用寿命长等特点,在雷射通信,拉曼光谱,萤光激发,雷射打标、舞台、地标,雷射测距,全息摄影术,光电检测,干涉测量法,生物工程,光动力学治疗,材料分析,PIV粒子测速等领域具有重要的应用。

超锋拥有绿光雷射器波长有501nm、505nm、510nm、514nm、515nm、520nm、522nm、523nm、526nm、527nm、530nm、532nm、536nm、537nm、540nm、543nm、545nm、550nm、552nm、555nm、556nm、558nm、560nm、561nm、565nm 等;绿光雷射器包含固体、半导体和光纤雷射器类型。根据绿光雷射器的光学指标,包括连续、脉冲(微秒、纳秒、皮秒、飞秒)、单频(单纵模)、低杂讯、窄线宽、长相干和波长可调谐等类型。

 

一字线 532nm 连续绿光雷射器

一字线雷射器是由点光源通过线性发生器产生功率密度均匀<20%,直线度±0.1%,功率稳定性好并呈一字线型输出的雷射器。我们可以为客户提供全形为7°、10°、30°、45°、60°、75°、90°的光学器件来适应各种使用要求。该产品被广泛应用於三维扫描测量、尺寸检测、角度测量、平面度、位置焊接、电路板晶片检测等工业领域,以及科研方面的PIV粒子图像测速等领域。

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轮廓分析仪测试的线宽图

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均匀性测试图

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CCD相机拍摄的线宽图

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机器视觉应用

各种图案光斑

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一字线检测

PIV粒子图像测速应用

雷射粒子图像测速(Partical Image Velocimetry,简称PIV),是一种瞬态、多点、无接触式的流体力学测速方法,克服了传统手段单点测量的局限性,能在同一瞬态记录下大量空间点上的速度分布资讯,并可提供丰富的流场空间结构以及流动特性。可广泛应用在风洞中的流场测量、湍流流场测定、颗粒流的研究、环境研究,生物医学研究等领域。

哈工大流场PIV测试

用於Caltech(U.S.A)流体力学实验室

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